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蛍光分布イメージングシステムEEM View

蛍光分布イメージングシステムは全く新しい設計を採用し、サンプルのスペクトルデータを測定し、観察することができる。AIスペクトル画像処理アルゴリズム*1を用いて、サンプルの蛍光画像と反射画像をそれぞれ表示することができるだけでなく、異なる領域のスペクトル画像*1（蛍光スペクトル、反射スペクトル）を得る

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蛍光分布イメージングシステムEEM® View

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蛍光分布イメージングシステムは全く新しい設計を採用し、サンプルのスペクトルデータを測定し、観察することができる。AI分光画像処理アルゴリズムを用いた^*1、試料の蛍光画像と反射画像をそれぞれ表示できるだけでなく、異なる領域のスペクトル画像を得ることができる^*1（蛍光スペクトル、反射スペクトル）。

*1: 計算システムは国立情報学研究所のIMARI SATO教授と鄭銀強准教授の共同研究の成果である。

*: 「EEM」は日立ハイテクサイエンスの中国と日本における登録商標である

特徴
データの適用
インデックス

特徴

EEM Viewとは

蛍光・反射画像とスペクトルを同時に得ることができる新技術

測定サンプルのスペクトルデータ（反射スペクトル、蛍光スペクトル）
異なる光源条件（白色光とモノクロ光）でサンプルを撮影する
（領域：Φ20 mm、波長範囲：380 ~ 700 nm）
AI分光画像処理アルゴリズムを用いて^＊1、サンプルの蛍光画像と反射画像をそれぞれ表示ことができる
画像によって異なる領域のスペクトル情報を得ることができる^＊1（蛍光スペクトル、反射スペクトル）

*1: 計算システムは国立情報学研究所のIMARI SATO教授と鄭銀強准教授の共同研究の成果である

EEM View Analysisインタフェース（サンプル：LED基板）

蛍光分布イメージングシステムの概要

均一な光源システム

サンプルの蛍光・反射画像とスペクトルを同時に取得！

積分球の拡散反射による光源の均一化
積分球を用いて集めた光は試料に均一に照射される
蛍光検出器とCMOSカメラを用いたダブル検出モード

新型の蛍光分布イメージングシステムは、F−7100蛍光分光光度計のサンプルビン内に設置することができる。入射光は積分球の拡散反射を経て均一にサンプルに照射され、F-7100標準の蛍光検出器を利用してサンプル蛍光スペクトルを得ることができ、積分球の下のCMOSカメラと結合してサンプル画像を得ることができ、そして独特のAIスペクトル画像処理アルゴリズムを利用して、反射と蛍光画像を同時に得ることができる。

サンプルの取り付けが簡単で、各種サンプルテストに適しています！

サンプルはポイントボールに置くだけで、設置は簡単です！

板状サンプル：石英窓を通してサンプルを取り付ける。
粉末サンプル：粉末をサンプル平坦治具に充填し、粉末サンプルプールホルダに置くか、オプションの固体サンプルホルダ中の粉末サンプルプールを使用してサンプルを取り付ける。

補正時には、蛍光標準サンプルをセットしておく必要があります。
オプションの標準ホワイトボード（100%）とブランクサンプル（0%）を使用して修正してください。この補正ツールは、蛍光強度、反射率補正、および画像の異なる領域の輝度分布補正に適用することができる。

データの適用

【適用例】微細構造材料の蛍光特性及び構造確認

視認性を高めるために、微細構造を有する蛍光反射シートを測定した。

スペクトルデータとサンプル画像を同時に得る

試料に360 nm〜700 nmの範囲の単色光及び白色光を照射した。この場合、異なる光源条件下の画像を得ることができ、同時に蛍光検出器によって蛍光スペクトルを得ることができる。測定が完了すると、サンプルの3次元蛍光スペクトル（励起波長、発光波長、蛍光強度）を見ることができます。専用分析ソフトウェアでは、画像を拡大することで、異なる領域の蛍光・反射スペクトルを表示することができます。したがって、光学特性分布が不均一な試料の反射及び蛍光スペクトルを確認することができる。

異なる領域のスペクトル（蛍光・反射）を計算、表示する

分離画像の表示（蛍光・反射）

撮像画像を反射光成分画像と蛍光成分画像とを分離する

AI分光画像処理アルゴリズムを用いて、撮影した画像を反射光成分と蛍光成分画像に分離する。その結果、反射光成分画像はオレンジ色、蛍光成分画像は緑色と表示された。両者はそれぞれ反射スペクトルと蛍光スペクトルの単色光と一致している。このことから、このサンプルはオレンジ色反射光と緑色蛍光の混合であるため、白色光下では黄色を呈していることがわかる。また、反射画像と蛍光画像により、サンプルの異なる領域の光学特性（画像パターン）の違いがわかる。画像を拡大すると、反射板の微細構造には規則正しい間隔があり、その間隔幅は200μmであることがわかる。

インデックス

主な機能

主な機能
プロジェクト	内容
EEM Viewモード（測定モード）	三次元蛍光スペクトルの測定
	モノクロ光画像
	白色光画像
	プレビュー画像
データ処理	サムネイルを表示
	3 D蛍光スペクトルの表示（等高線、グラデーション）
	励起/発光スペクトルを表示
	拡大画像を表示
	画像パーティション（1×1、2×2、3×3、4×4、5×5）
	異なる領域のスペクトル（蛍光、反射）を計算、表示する^*1
	分離画像を表示する（蛍光、反射）^*1

*1: 計算システムは国立情報学研究所のIMARI SATO教授と鄭銀強准教授の共同研究の成果である

仕様

仕様
プロジェクト	内容
しょうしゃはちょう	360 nm ～700 nm
カメラ	カラー（RGB）CMOSセンサ
インタフェース	USB3.0
有効ピクセル数	1920 × 1200（H×V）
撮影可能波長範囲	380 nm ～700 nm

*: この部品の主な仕様は蛍光分光光度計本体を設計根拠としている。

構成例

構成例
の名前をあげる	P/N（シリアル番号）
F-7100蛍光分光光度計	5J1-0042
EEM Viewアクセサリ	5J0-0570
R 928 F光電子増倍管	650-1246
ふくひょうじゅんこうげん	5J0-0136

適用＃テキヨウ＃

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蛍光分布イメージングシステムEEM® View

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データの適用

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蛍光分布イメージングシステムの概要

データの適用

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